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Früherkennung für Materialfehler: SEMIKRON Innovation Award für neuartigen Leistungselektronik-Test
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Früherkennung für Materialfehler: SEMIKRON Innovation Award für neuartigen Leistungselektronik-Test

Forscher von Fraunhofer IISB, FAU Erlangen-Nürnberg, Infineon und Intego erhielten den SEMIKRON Innovation Award 2016. Das Team entwickelte ein neues Messgerät zur schnellen und kontaktlosen…